完整的生產測試，無需空間

滿足您的所有生產測試需求，在同一空間內有兩條完全隔離的寬動態源和測量通道。

每條 40 W 通道提供 6? 位精確分辨率源，在小于 100 μs 脈沖寬度和設定值的 

0.1% 范圍內，測量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。

特點

● 在同一空間內可有 2 條通道

● 超寬的電壓和電流動態范圍

● 高度準確的 100 μs 脈沖可擴展直流生產測試能力

嵌入式腳本提供的生產吞吐量

滿足您的所有生產測試需求，在同一空間內有兩條完全隔離

的寬動態源和測量通道。 每條 40 W 通道提供 6? 位精確分

辨率源，在小于 100 μs 脈沖寬度和設定值的 0.1% 范圍內，

測量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。

特點

● 消除與 PC 之間耗時的總線通信

● 高級數據處理和流量控制

● 通用型探頭/處理程序控制

系統性能，無主機

TSP-Link? 技術支持擴展多達 64 條通道，支持高速、SMU

-per-pin 并行測試（而不使用主機）。 <500 ns 時所有通道

同時受控。

特點

● 支持 <500 ns 通道間同步

● 可達 32 條或 64 條 SMU 通道

● 隨著測試要求變化輕松重新配置